설계(Design)
ATPG (Automatic Test Pattern Generation)
자동 테스트 패턴 생성(ATPG)은 디지털 회로의 제조 결함을 검출하기 위한 테스트 패턴(입력 시퀀스)을 자동으로 생성하는 프로세스입니다. 이는 설계-테스트(DFT) 기법과 연계되어 스캔 체인(Scan Chain)과 같은 내장 테스트 회로를 활용합니다. ATPG는 반도체 제조 후 모든 칩이 정확하게 작동하는지 검증하는 데 필수적이며, 결함 진단 및 수율 향상에 기여하여 생산 비용을 절감합니다.
최종 업데이트: 2026.04.03