설계(Design)
Automated Test Pattern Generation (ATPG)
반도체 칩 내의 특정 결함(예: stuck-at, transition fault)을 탐지할 수 있는 최적화된 테스트 패턴(test pattern)을 자동으로 생성하는 소프트웨어 도구 및 알고리즘입니다. 설계의 넷리스트와 지정된 결함 모델을 입력받아, 결함이 존재할 때와 존재하지 않을 때 출력에서 차이가 발생하는 입력을 찾아냅니다. 이는 대량 생산 전 칩의 제조 결함을 효율적으로 검출하기 위한 필수적인 단계입니다.
최종 업데이트: 2026.04.04