설계(Design)
DFT
Design for Test. 제조된 칩의 불량 여부를 쉽게 테스트할 수 있도록 설계 단계에서 미리 테스트 전용 회로를 삽입하는 기법.
최종 업데이트: 2026.04.03
Design for Test. 제조된 칩의 불량 여부를 쉽게 테스트할 수 있도록 설계 단계에서 미리 테스트 전용 회로를 삽입하는 기법.