PROCESS

Die-to-Die

웨이퍼 상의 인접한 동일 패턴 두 개를 마스크 상에서 비교하여 차이점(결함)을 찾는 검사입니다.

최종 업데이트: 2026.04.03

분야별 의견 및 추가 지식

0

의견을 남기려면 로그인이 필요합니다.

로그인

아직 의견이 없습니다. 첫 번째 전문가의견을 남겨보세요!

연관 용어 추천

무어의 법칙