Logic BIST (LBIST)

칩 내의 순차 및 조합 로직 회로의 테스트를 위해 자체적으로 테스트 패턴을 생성하고 테스트 응답을 분석하는 기능(Built-In Self-Test)을 내장하는 DFT 기법입니다. Pseudo-Random Pattern Generator (PRPG)와 Multiple Input Signature Register (MISR) 같은 회로를 사용하여, 외부 ATE의 테스트 패턴 부담을 줄이고 자가 테스트 능력을 제공합니다. 이를 통해 필드에서의 주기적인 진단이나 시스템 초기 전원 인가 시 자가 테스트를 가능하게 하여 신뢰도를 높입니다.