설계(Design)
Memory Built-In Self-Test (MBIST)
반도체 칩 내부에 임베디드된 SRAM, DRAM, ROM 등 다양한 메모리 블록의 기능 및 제조 결함을 스스로 진단하고 테스트할 수 있는 회로를 내장하는 DFT 기술입니다. MBIST 컨트롤러는 자체적으로 테스트 패턴을 생성하고 메모리 응답을 분석하여 결함 유무를 판단합니다. 이를 통해 외부 테스트 장비의 의존도를 낮추고, 테스트 비용을 절감하며, 대량 생산에서 메모리 신뢰성을 빠르게 검증할 수 있습니다.
최종 업데이트: 2026.04.04