설계(Design)
Scan Chain
스캔 체인은 반도체 칩의 테스트 용이성(Design-for-Test, DFT)을 높이기 위해 모든 순차 회로(플립플롭)들을 직렬로 연결하여 형성하는 시프트 레지스터 체인입니다. 이 체인을 통해 테스트 데이터를 입력하고 내부 상태를 관찰할 수 있어, 회로 내부에 결함이 발생했을 때 이를 효과적으로 진단할 수 있습니다. 스캔 체인 기법은 고밀도 복잡한 칩의 제조 테스트 비용을 줄이고 결함 커버리지를 높이는 데 핵심적인 역할을 합니다.
최종 업데이트: 2026.04.03