VERIFICATION
SEL (Single Event Latch-up)
고에너지 입자가 반도체 소자를 통과하여 기생 SCR(Silicon Controlled Rectifier) 구조를 활성화시켜 대량의 전류가 흐르는 현상입니다. 이는 소자 내부에 저저항 경로를 형성하여 영구적인 손상이나 시스템 고장을 유발할 수 있습니다. 가드 링과 같은 물리적 격리 기법으로 방지합니다.
최종 업데이트: 2026.04.05