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주사전자현미경. 미세 회로의 결함을 눈으로 확인하기 위해 나노 단위까지 고배율로 관찰하는 장치입니다.
최종 업데이트: 2026.04.03
주사전자현미경. 미세 회로의 결함을 눈으로 확인하기 위해 나노 단위까지 고배율로 관찰하는 장치입니다.