설비/장비(Equip)
TEM (Transmission Electron Microscope) (투과 전자 현미경)
전자빔을 시료에 투과시켜 물질의 내부 구조를 원자 수준에서 관찰하는 장비입니다. 초고해상도 이미지를 제공하며, 박막의 결정 구조, 결함, 계면 특성 등을 분석하는 데 사용됩니다. 첨단 소자의 미세 구조 분석 및 공정 문제 해결을 위한 필수적인 분석 장비입니다.
최종 업데이트: 2026.04.03