설비/장비(Equip)
Wafer Prober (웨이퍼 프로버)
웨이퍼 상태에서 개별 칩(Die)의 전기적 특성을 테스트하기 위해 사용되는 장비입니다. 프로브 카드(Probe Card)의 미세한 핀을 웨이퍼의 테스트 패드에 접촉시켜 전기 신호를 인가하고 응답을 측정합니다. 불량 칩을 선별하여 다음 공정으로 넘어가지 않게 함으로써 전체 제조 비용을 절감하는 데 중요한 역할을 합니다.
최종 업데이트: 2026.04.03