전공정(FAB)
YE (Yield Enhancement, 수율 향상)
반도체 양산 과정에서 발생하는 불량 원인을 분석하고 개선하여 양품의 비율(수율)을 극대화하는 모든 기술적 활동을 의미합니다. 결함(Defect) 분석 장비를 활용하여 수율 손실의 근본 원인을 파악하고 공정 최적화를 제안합니다.
최종 업데이트: 2026.04.03