DPW & Yield Calculator

Die Per Wafer & Semiconductor Yield Analysis Tool

Parameters

Wafer Diameter (mm)

Die Width (mm)

Die Height (mm)

Edge Exclusion (mm)

Defect Density (D0, /cm²)

포아송(Poisson) 및 머피(Murphy) 수율 모델이 실시간으로 적용됩니다.

Gross Die (DPW)

0

Theoretical Max

Net Die (Good)

0

0% Yield

Die Area

0

mm²

● Valid Die ● Edge Die